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日本日置 300MHz阻抗分析儀

更新時間：2019-05-31

日本日置 300MHz阻抗分析儀 IM7580A-1/2
較快0.5ms，高速、高穩(wěn)定測量，節(jié)省空間的半個機架大小
● 測量頻率1MHz~300MHz
● 測量時間：較快0.5ms
● 基本精度±0.72%rdg.
● 緊湊主機僅機架一半大小、測試頭僅手掌大小
● 豐富的接觸檢查功能（DCR測量、Hi-Z篩選、波形判定）
● 使用分析功能在掃描測量頻率、測量信號電平的同時進行測量

IM7580A-1/2日本日置 300MHz阻抗分析儀的詳細資料

日本日置 300MHz阻抗分析儀 IM7580A-1/2

快0.5ms，高速、高穩(wěn)定測量，節(jié)省空間的半個機架大小

● 測量頻率1MHz~300MHz
● 測量時間：快0.5ms
● 基本精度±0.72%rdg.
● 緊湊主機僅機架一半大小、測試頭僅手掌大小
● 豐富的接觸檢查功能（DCR測量、Hi-Z篩選、波形判定）
● 使用分析功能在掃描測量頻率、測量信號電平的同時進行測量

注意：

主機不帶測試治具。需要使用阻抗分析儀IM7580A的測試治具。

阻抗分析儀IM7580s：等效電路分析功能

能夠以測量結(jié)果為基礎(chǔ)推測5種等效電路模式的常數(shù)。而且，可以通過模擬功能，使用推測結(jié)果或者任意的常數(shù)來顯示頻率特性的理想值。此外，使用比較器功能，還能夠確定測量結(jié)果是否在判定區(qū)域內(nèi)。

阻抗分析儀IM7580系列：使用SMD治具IM9201進行LCR測量

IM7580系列5種機型的測量頻率覆蓋了1MHz?3GHz。
和用于6種尺寸SMD的測試治具IM9201組合使用，能夠簡單準確的測量樣品。

日本日置 300MHz阻抗分析儀 IM7580A-1/2

基本參數(shù)

測量模式	LCR（LCR測量），分析（掃頻測量），連續(xù)測量
測量參數(shù)	Z, Y, θ, Rs (ESR), Rp, X, G, B, Cs, Cp, Ls, Lp, D (tanδ), Q
精度保證范圍	100 mΩ~5 kΩ
顯示范圍	Z: 0.00m~9.99999 GΩ / Rs, Rp, X: ± (0.00 m~9.99999 GΩ) Ls, Lp: ± (0.00000 n~9.99999 GH) / Q: ± (0.00~9999.99) θ: ± (0.000°~999.999°), Cs, Cp: ± (0.00000 p~9.99999 GF) D: ± (0.00000~9.99999), Y: (0.000 n~9.99999 GS) G, B: ± (0.000 n~9.99999 GS), Δ%: ± (0.000 %~999.999 %)
基本精度	Z: ±0.72 % rdg. θ: ±0.41°
測量頻率	1 MHz~300 MHz (100 Hz~10 kHz步進)
測量信號電平	功率 (dbm)模式: -40.0 dbm~ +7.0 dbm 電壓 (V)模式: 4 mV~1001 mVrms 電流 ( I )模式: 0.09 mA~20.02mArms
輸出阻抗	50 Ω (10 MHz時)
顯示	彩色TFT8.4英寸、觸屏
測量時間	快0.5ms（FAST、模擬測量時間、代表值）
功能	接觸檢查、比較器、BIN判定（分類功能）、面板讀取·保存、存儲功能、等效電路分析、相關(guān)補償
接口	EXT I/O (處理器), USB通訊, U盤, LAN RS-232C (選件), GP-IB (選件)
電源	AC 100~240 V, 50/60 Hz, 70 VA max
體積和重量	主機: 215W × 200H × 268D mm, 6.5 kg 測試頭: 61W × 55H × 24D mm, 175 g
附件	電源線 ×1, 測試頭 ×1, 連接線 ×1, 使用說明書 ×1, CD-R (通訊使用說明書) ×1