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IM3536日本日置 LCR測試儀的詳細資料

日本日置 LCR測試儀 IM3536

DC,4Hz~8MHz測量頻率

● 測量頻率DC,4Hz~8MHz
● 測量時間:快1ms
● 基本精度:±0.05% rdg
● 1mΩ以上的精度保證范圍,也可安心進行低阻測量
● 可內(nèi)部發(fā)生DC偏壓測量
● 從研發(fā)到生產(chǎn)線活躍在各種領(lǐng)域中

 

注意:

主機不標配測試治具。請在選件中選擇測試治具和探頭。

 

電解電容器的電容測量:LCR測試儀IM3536

根據(jù)JIS標準測試電解電容器,電解電容的電容值在不同測試頻率下容值差異較大,因此需要根據(jù)實際回路的工作頻率來確認電容值。
LCR測試儀IM3536寬測試頻率范圍DC,4Hz~8MHz,適用于以上產(chǎn)品特性評估。

 

陶瓷電容器的電容測量:LCR測試儀IM3536

陶瓷電容器可分為,隨電壓變化的高介電常數(shù)型和溫度補償型。JIS標準針對兩種陶瓷電容特性有不同的測試要求。使用LCR測試儀IM3536的頻率范圍DC,4Hz~8MHz,內(nèi)置電壓范圍10mV~5V,非常適合用于以上兩種不同要求的電容測試。

 

電感器(線圈)的電感測量:LCR測試儀IM3536

電感器(線圈)所具備的電感和線圈的寄生電容中將LC共振現(xiàn)象稱為自諧振。 將產(chǎn)生這種自諧振的頻率稱為自諧振頻率。在評估線圈時請在比自諧振頻率更低的頻率下測量L和Q。
LCR測試儀IM3536的測量頻率很廣,可以設(shè)置為DC、4 Hz~8 MHz,可以任意改變測試頻率進行測試。

 

測量電感器的頻率特性:LCR測試儀IM3536

LCR測試儀IM3536的測量頻率較廣,可以設(shè)置為DC、4 Hz~8 MHz,非常適合于評估連續(xù)改變頻率的測量。在計算機中安裝附件LCR采用應(yīng)用軟件(CD-R),并通過接口(USB, GP-IB, RS-232C),可以進行掃頻功能,自動測量出的測量數(shù)值能夠以Excel或CSV格式進行保存。

 

日本日置 LCR測試儀 IM3536

基本參數(shù)

測量模式LCR(單一條件下測量),連續(xù)測量(保存條件下連續(xù)測量)

測量參數(shù)

Z, Y, θ, X, G, B, Q, Rdc(直流電阻),Rs (ESR), Rp, Ls, Lp, Cs, Cp, D (tanδ), σ, ε
測量量程100 mΩ~100 MΩ, 10檔量程(所有參數(shù)由Z規(guī)定)
顯示范圍Z: 0.00 m~9.99999 GΩ, Y: 0.000 n~9.99999 GS, θ: ± (0.000°~999.999°), Q: ± (0.00~9999.99), Rdc: ± (0.00 m~9.99999 GΩ), D: ± (0.00000~9.99999), Δ%: ± (0.000 %~999.999 %)等
基本精度Z: 0.05 % rdg. θ: 0.03°(代表值,精度保證范圍:1mΩ~200MΩ)
測量頻率4 Hz~8 MHz (10 mHz~100 Hz步進)
測量信號電平[V模式, CV模式]的[通常模式]
4 Hz~1.0000 MHz: 10 mV~5 V (大50 mA)
1.0001 MHz~8 MHz: 10 mV~1 V (大10 mA)
[V模式, CV模式]的[低Z高精度模式]
4 Hz~1.0000 MHz: 10 mV~1 V (大100 mA)
[CC模式]的[通常模式]
4 Hz~1.0000 MHz: 10 μA~50 mA (大5 V)
1.0001 MHz~8 MHz: 10 μA~10 mA (大1 V)
[CC模式]的[低Z高精度模式]
4 Hz~1.0000 MHz: 10 μA~100 mA (大1 V)
[直流電阻測量]: 1 V固定
DC偏壓發(fā)生范圍:DC電壓0~2.50 V (低Z高精度模式時0 ~1 V)
輸出阻抗通常模式:100 Ω, 低Z高精度模式: 10 Ω
顯示彩色TFT5.7英寸,觸摸屏
功能比較器、BIN測量(2個項目10種分類),觸發(fā)功能、開路·短路補償、接觸檢查、面板保存·讀取功能、存儲功能
接口EXT I/O (處理器), /USB/U盤/LAN/GP-IB/RS-232C, BCD輸出
電源AC 100~240 V, 50/60 Hz, 50 VA max
體積及重量330W × 119H × 230D mm, 4.2 kg
附件電源線×1,使用說明書×1,CD-R(通訊說明書,LCR應(yīng)用光盤)×1

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