日本日置電氣阻抗分析儀
更新時(shí)間：2019-05-31
日本日置電氣阻抗分析儀 IM35701臺(tái)儀器實(shí)現(xiàn)不同測(cè)量條件下的高速檢查● 1臺(tái)儀器實(shí)現(xiàn)LCR測(cè)量、DCR測(cè)量、掃描測(cè)量等的連續(xù)測(cè)量和高速檢查● LCR模式下較快1.5ms（1kHz），0.5ms（100kHz）的高速測(cè)量● 基本精度±0.08%的高精度測(cè)量● 適用于壓電元件的共振特性檢查、功能性高分子電容的C-D和低ESR測(cè)量，電感器（線圈、變壓器）的DCR和L-Q的測(cè)量
IM3570日本日置電氣阻抗分析儀的詳細(xì)資料
一、日本日置電氣阻抗分析儀IM3570的優(yōu)點(diǎn)
1臺(tái)儀器實(shí)現(xiàn)不同測(cè)量條件下的高速檢查
1臺(tái)儀器實(shí)現(xiàn)LCR測(cè)量、DCR測(cè)量、掃描測(cè)量等的連續(xù)測(cè)量和高速檢查
LCR模式下zui快1.5ms（1kHz），0.5ms（100kHz）的高速測(cè)量
基本精度±0.08%的高精度測(cè)量
適用于壓電元件的共振特性檢查、功能性高分子電容的C-D和低ESR測(cè)量，電感器（線圈、變壓器）的DCR和L-Q的測(cè)量
分析儀模式下可進(jìn)行掃頻測(cè)量、電平掃描測(cè)量、時(shí)間間隔測(cè)量
二、日本日置電氣阻抗分析儀IM3570的基本參數(shù)
| 測(cè)量模式 | LCR（LCR測(cè)量），分析儀（掃描測(cè)量），連續(xù)測(cè)量 | | 測(cè)量參數(shù) | Z、Y、θ、Rs（ESR）、Rp、Rdc（直流電阻）、X、G、B、Cs、Cp、Ls、Lp、D（tanδ）、Q | | 測(cè)量量程 | 100mΩ~100MΩ，12檔量程（所有參數(shù)由Z確定） | | 顯示范圍 | Z、Y、Rs、Rp、Rdc、X、G、B、Ls、Lp、Cs、Cp：±（0.000000[單位]~9.999999G[單位]，僅Z和Y顯示值
θ：±（0.000°~999.999°），D：±（0.000000~9.999999）
Q：±（0.00~99999.99），△%：±（0.0000%~999.9999%） | | 基本精度 | Z：±0.08%rdg. θ：±0.05° | | 測(cè)量頻率 | 4Hz~5MHz（10mHz~100Hz步進(jìn)） | | 測(cè)量信號(hào)電平 | V模式，CV模式（普通模式）
50mV~1Vrms，1mVrms步進(jìn)（1MHz以下）
10mV~1Vrms，1mVrms步進(jìn)（1.0001MHz以上）
CC模式（普通模式）
10μA~50mA rms，10μA rms步進(jìn)（1MHz以下）
10μA~10mA rms，10μA rms步進(jìn)（1.0001MHz以上） | | 輸出阻抗 | 普通模式：100Ω，低阻抗高精度模式：10Ω | | 顯示 | 彩色TFT5.7英寸，可設(shè)置顯示ON/OFF | | 測(cè)量時(shí)間 | 0.5ms（100kHz，F(xiàn)AST，顯示OFF，代表值） | | 測(cè)量速度 | FAST/MED/SLOW/SLOW2 | | 其他功能 | DC偏壓測(cè)量，比較功能，面板讀取和保存，存儲(chǔ)功能 | | 接口 | EXT I/O，RS-232C，GP-IB，USB通訊，U盤，LAN | | 電源 | AC90~264V，50/60Hz，zui大150VA | | 打印 | 拷貝測(cè)量值或屏幕顯示的要點(diǎn)（需用9442，9593-01和9446） | | 接口 | GP-IB，RS-232C，EXT.I/O(所有標(biāo)準(zhǔn)) | | 電源 | AC90~264V，50/60Hz，zui大150VA | | 體積和重量 | 330W×119H×307Dmm，5.8kg | | 附件 | 電源線×1，使用說明書×1，通訊手冊(cè)×1 |
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三、IM3570的選件
